美國OEwaves公司的HI-Q光學測試測量系統(tǒng)提供了完全自動化地測量連續(xù)激光器或激光光源的超低相位噪聲測量。這個光學測試測量系統(tǒng)能夠快速地測量激光相位噪聲，評估其線寬的半高寬度低至< 3 Hz,而無需復雜的測試架構(gòu)和參考激光即可作這樣的窄線寬測量。
該系統(tǒng)在寬帶測量方面是獨一無二的，它不要求另外的低噪聲參考激光光源。該系統(tǒng)操作簡單、方便、快速、精度高，且無需附加額外的測試設(shè)備。這臺獨一無二的超低相位/頻率噪聲分析儀可擴展到不同的輸入波段，并用于低相對強度噪聲測量。
特點：
▪ 超低相位/頻率噪聲測量
▪ 快速實時測量
▪ 即刻和擴展的FWHM線寬分析
▪ 不需要低噪聲參考光源
▪ 用戶友好界面
▪ 簡單的基于PC的操作
▪ 3U x 19英寸機架系統(tǒng)
▪ 可定制的配置、升級和選項
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光學測試測量系統(tǒng)
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型號
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OE4000
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波長
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1530 – 1565 nm
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動力學范圍
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60dB
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光學輸入功率范圍
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+5 to +15 dBm (PM-FC/APC)
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測量類型
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頻率噪聲/零差相位
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數(shù)據(jù)存儲與I/O
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HDD / USB端口
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帶寬分辨率
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0.1 Hz – 200 kHz
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電源電壓
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110 / 120 or 220 / 240 Vac ; 50 / 60Hz
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光學測試測量系統(tǒng)尺寸
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3U x 19英寸機架式
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低或高輸入功率范圍
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可選
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波長范圍(可選)
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740 – 935 / 965 – 1065 / 1000 – 1100 / 1260 – 1360 / 1530 – 1625 / 1950 – 2150 (nm)
(選擇多波長范圍以及定制波長范圍請咨詢)
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可選擇的配置：
▪ 在630 nm - 2200 nm范圍內(nèi)多個輸入波段
▪ 超低噪聲基底
▪ 相對強度噪聲測量
▪ 擴展的偏移頻率范圍可達2 GHz
▪ 擴展的輸入功率范圍
▪ 遠程操作
▪ 性能和頻率
▪ 定制范圍選擇和升級
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